SEM电镜 查看矿物、材料等表面微区形貌和结构

 
 
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更新 2020-08-28 13:45
 
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长沙矿冶研究院分析检测中心

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       JEOL新一代FE-SEM旗舰机型JSM-7900F,它继承了上一代广获好评的如极高的空间分辨率、高稳定性、多种功能等性能的同时,操作性能极大地简单化。

新一代电子光学控制系统Neo Engine(New Electron Optical Engine),是JEOL电子光学技术荟萃的结晶。 它综合了透镜控制系统和自动化技术,即使改变电子光学条件,光轴的偏离也极小,大大提高了可操作性及观察精度。
扫描电镜机器1

早期矿物成分的数据使用物理分离和化学方法取得的。

由于分离不完善,以及交叉生长细小相的影响,常常得出错误的结果。利用探针分析和扫描图像观察,对矿物学研究有突出的作用,它能用电子图像的成分对比度和特征x射线图像分布,观察矿物中的元素分布及相区组成,引导探针进行定点定区分析,测定矿物中微区组成的准确成分。

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